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覆盖 ATE、存储器测试、动态老化以及高速接口测量等方向,形成面向芯片验证、量产导入与教学实训的完整设备矩阵。
面向中小规模数模混合集成电路测试,支持数字、模拟及混合信号器件的功能验证与参数测试。
小型集成电路测试平台,适用于数字、模拟以及混合信号器件的功能与参数验证场景。
高性能 SoC 测试系统,支持高并发测试条件下的独立通道处理与整机时序同步控制。
面向各类存储芯片的高性能测试解决方案,覆盖更完整的存储器验证与量产测试需求。
用于集成电路动态老化与可靠性评估的专业平台,适配筛选、验证与寿命测试需求。
支持 500Mbps 到 12Gbps 的高速串行接口测试,适用于 SerDes、PCIe、USB 等高速链路分析。
面向 PCIe、USB 等高速数据线缆测试,支持电气参数、误码率与眼图分析。